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        Z結構組合蓋帽

        Z結構組合蓋帽優(yōu)點(diǎn):

        1、可以有效的降低封口變形對CID焊點(diǎn)的影響,防止電池零電壓。

        2、該結構具有優(yōu)良的抗震性,特別適合在機械振動(dòng)較大的環(huán)境中使用。

        3、設計上的里外區別對待,有效降低電池內部高溫對電池的二次損傷。



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